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奇裕與AET Technologies 攜手對抗LID

發佈日期 2015 年 04 月 30 日 18:10 | 作者 | 分類 產業資訊
太陽能設備商奇裕暨奇元裕公司與AET Technologies共同於今年SNEC展籌辦研討會,針對LID光衰問題提出解決方案。藉由快速含氧量檢測,可幫助晶圓與電池廠商提升產品品質,對抗LID。 研討會中,除了有AET Technologies所屬的AET Solar Tech技術...  [詳内文]