奇裕與AET Technologies 攜手對抗LID

發佈日期: 2015 年 04 月 30 日 18:10 | 作者: | 分類: 產業資訊

太陽能設備商奇裕暨奇元裕公司與AET Technologies共同於今年SNEC展籌辦研討會,針對LID光衰問題提出解決方案。藉由快速含氧量檢測,可幫助晶圓與電池廠商提升產品品質,對抗LID。

研討會中,除了有AET Technologies所屬的AET Solar Tech技術專家分享氧含量檢測技術及最新即時檢測機台設備Oxymap之外,也特別邀請到法國太陽能機構(INES) 的首席研究專家說明快速量測氧含量的原理及掌握LID 光衰減的運用。此外,會中還深入探討此一含氧檢測技術實際運用在AL-BSF & PERC的情形。不少晶圓製造及電池片重要業者出席,現場十分熱烈。

近年來太陽能市場持續成長,在全世界市場需求的推動下,各家廠商紛紛投入資源開發新一代技術。然而對電池片製造商而言,取得有品質保障的晶圓往往受限於現有檢測技術與不利條件,例如特製的受測樣本及長久的檢測時間等。隨著PERC的興起,LID光衰減的議題也愈受重視,有鑑於此,對晶圓中氧含量的快速有效檢測變得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 設備則可以直接檢測量產晶圓的氧含量並精準掌握LID光衰表現,未來期待能協助業界掌握晶圓品質,加強LID光衰減及LIR光還原的製程開發。

奇裕暨奇元裕公司大中華區總經理簡聰明說:「感謝AET Technologies與奇裕公司一同介紹先進技術方案給予大中華區客戶。其Oxymap 氧含量檢測技術,肯定能協助客戶瞭解如何改善其產品及技術,進而提供高效產品;奇裕將持續提供客戶全方位的技術支援,並滿足客戶多元化的需求。」

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